該設(shè)備用于各種電子元器件、信息電子儀器儀表、材料、電子產(chǎn)品，還適用于航空航天產(chǎn)品。不僅能在高溫濕熱的環(huán)境下檢測，也能在低溫恒溫的環(huán)境下檢測各種性能指標(biāo)是否達(dá)標(biāo)。

產(chǎn)品箱體采用數(shù)控機床加工成型，漂亮大方還采用無反作用的門把手操作簡單省時省力。

箱子的內(nèi)部采用高級不銹鋼SUSU304鏡面板，箱外采用A3鋼板噴塑，增加了外觀的質(zhì)感和潔凈度。

補水箱裝置在控制箱體的右下部并設(shè)置有缺水自動保護功能，更利于使用者補充水源。另還設(shè)有觀測視窗并婦幼照明燈保持箱內(nèi)明亮（照明燈防爆），還利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃隨時可以看到箱內(nèi)的狀況。

設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)：本產(chǎn)品滿足GB/T 2423.1-2008試驗A《低溫試驗方法》；GB/T 2423.2-2008試驗B《高溫試驗方法》；GB/T 2423.3-2006試驗C《恒定濕熱方法》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》等國家標(biāo)準(zhǔn)進行設(shè)計制造，可進行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗。

設(shè)備名稱及型號：高低溫濕熱試驗箱 GT-GDS-225

溫度范圍：A:-20℃~130℃/B:-40℃~130℃/C:-60℃~130℃/D:-70℃~130℃

濕度范圍：30~98% RH

波動/均勻度：≤±0.5℃ /±2℃

溫度偏差：+2%、-3%R?H

升溫時間：-20℃~100℃約35min -40℃~100℃約45min -70℃~100℃約55min

降溫時間：25℃~40℃約55min 25℃~60℃約65min 25℃~70℃約80min

現(xiàn)該高低溫濕熱試驗箱設(shè)備廠家直營優(yōu)惠力度大，歡迎廣大新老客戶選購。